اندازه گیری نانو ذرات SiO2 با ICP-MS

 

تکنیک طیف سنجی جرمی پلاسما جفت شده القائی (ICP-MS) ترکیبی از ICP با طیف سنج جرمی است و دارای ویژگی های منحصر بفردی مانند دقت خوب، حساسیت عالی، آنالیز همزمان عناصر، محدوده دینامیکی خطی گسترده، طیف ساده، حد تشخیص پایین و توانایی انجام تجزیه و تحلیل سریع ایزوتوپ می باشد. دستگاه طیف سنج جرمی − پلاسمای جفت شده القائی (Inductively coupled plasma mass spectrometry) یکی از قویترین روش های شناسایی کمی و کیفی عناصر کم مقدار است و برای اندازه گیری چندین عنصر در یک نمونه مورد استفاده قرار می گیرد. همچنین کاربرد های متعددی در کنترل پارامتر های مختلف از جمله ساختار مولکولی و غلظت کل دارد و تقریباً در هر زمینه ای مورد استفاده قرار می گیرد؛ از جمله محیط زیست، زمین شناسی، تحقیقات بیولوژیکی، پزشکی، هسته ای، متالورژی و مطالعات تغذیه ای.

همانطور که بیان شد، ICP-MS یک روش بسیار عالی و ایده آل برای اندازه گیری مقدار عناصر مواد است. چالش های زیادی در اندازه گیری دقیق نانو ذرات NP با quadrupole ICP-MS معمولی، به ویژه توانایی تشخیص سیگنال پس زمینه از سیگنال تولید شده از یک ذره کوچک وجود دارد. در حال حاضر توسعه مدل نسبتاً جدیدی از حالت تک ذره ای (spICP-MS) یک روش قدرتمند برای مشخص کردن مقدار نانو ذرات NP نمونه است. spICP-MS امکان تعیین همزمان تعداد، غلظت و اندازه ذرات موجود و همچنین غلظت عناصر محلول را فراهم می کند. این رویکرد توسط بسیاری از محققان توسعه می یابد و دستگاه های مدرن ICP-MS می توانند روش های خودکار و کالیبراسیون را برای پشتیبانی از شناسایی نانو ذرات NP ارائه دهد و اندازه گیری ذرات کوچکتر را آسان می کند.

نانو مواد

نانو مواد به طور فزآینده ای در پروسه های صنعتی، کالا های تولیدی، دارو ها و محصولات مصرفی مانند لوازم آرایشی، کرم های ضد آفتاب و مواد غذایی مورد استفاده قرار می گیرند. اندازه گیری نانو ذرات (NPs) به دلیل آنکه سرنوشت NPs در محیط زیست و اثرات سمی آن در بدن هنوز به خوبی شناخته نشده است، در کانون توجه قرار دارد. به عبارت دیگر، با رشد و پیشرفت فناوری نانو و همچنین استفاده از نانو ذرات در محصولات و فرآیند های مختلف، نیاز به تعیین و بررسی نانو ذرات به طور چشم گیری افزایش می یابد.

نانو ذرات در ترکیبات مختلف بر اساس کاربرد آنها عرضه می شوند و نانو ذرات اکسید سیلسیم SiO₂ در حوزه های مختلف از جمله فرآیند های نیمه هادی، تقویت مواد، رنگ و موارد دیگر مورد استفاده قرار می گیرند و به این ترتیب نانو ذرات سیلیکا SiO₂ به دلیل کاربرد گسترده آن در صنعت، توجه جامعه علمی را به خود جلب کرده است. دستگاه پلاسمای جفت شده القایی- طیف سنج جرمی یکی از تجهیزات آنالیتیکال آزمایشگاهی است که قادر به آنالیز نانو ذرات سیلیکا می باشد.

آنالیز نانو ذرات SiO₂ با دستگاه پلاسمای جفت شده القائی−اسپکترومتر جرمی

در این تحقیق، تعیین و بررسی نانو ذرات SiO₂ با دستگاه Agilent 8900 ICP-QQQ در حالت MS/MS با گاز سل H₂ انجام گرفت. با استفاده از این تکنیک، نانو ذرات به سرعت و در کمتر از یک دقیقه اندازه گیری می شوند. عملکرد MS/MS، یون های چند اتمی که با آنالیز سیلسیم Si در 28 m/z تداخل دارند را به طور مؤثر حذف می کند. جهت محاسبه اندازه نانو ذرات، ماژول های کاربردی اختصاصی Single Nanoparticle برای نرم افزار ICP-MS MassHunter مورد استفاده قرار گرفت و نتایج دقیقی بدست آمد. روش spICP-QQQ زمان های آنالیز سریع، حد تشخیص عالی برای غلظت و اندازه ذرات و همچنین نتایجی دقیق برای ذرات SiO₂ با اندازه کمتر از 100nm ارائه می دهد.

دیگر کاربرد های دستگاه اسپکترومتر جرمی ICP-MS

• اندازه گیری فلزات سمی در پروتئین ماهی با دستگاه اسپکترومتر جرمی ICP-Mass
• آنالیز فلزات در ادرار با دستگاه طیف سنج جرمی پلاسمای جفت شده القائی ICP-MS
• بررسی میزان جذب پلاتین در سلول سرطانی با تکنیک آی سی پی مس
• تعیین فلزات سنگین در آب آشامیدنی توسط دستگاه اسپکتروسکوپی ICP-MS
• اندازه گیری فلزات سنگین در ترکیبات دارویی با استفاده از دستگاه ICP Mass

 

در صورتی که قصد خرید دستگاه اسپکترومتر جرمی ICP-MS را داشته باید، می توانید از راهنمایی مشاوران با تجربه شرکت تجهیزات آزمایشگاهی ری نور آزما استفاده کنید. شرکت ری نور آزما نماینده فروش طیف وسیعی از تجهیزات آنالیتیکال و عمومی آزمایشگاهی در ایران می باشد.